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泰克AWG70000獲《電子產(chǎn)品世界》最佳測(cè)試儀器獎(jiǎng)

2013-12-19 09:40:00   作者:   來源:CTI論壇   評(píng)論:0  點(diǎn)擊:


  CTI論壇(ctiforum)12月19日消息(記者 凡易):泰克公司日前宣布,泰克AWG70000任意波形發(fā)生器榮膺中國(guó)科技核心期刊《電子產(chǎn)品世界》舉辦的“電子產(chǎn)品世界編輯推薦獎(jiǎng)”之“最佳測(cè)試儀器”獎(jiǎng)。這也是AWG70000繼獲得EDN China 2013年度創(chuàng)新獎(jiǎng)“測(cè)試測(cè)量類最佳產(chǎn)品獎(jiǎng)”獎(jiǎng)項(xiàng)后,再次獲得業(yè)界及媒體的好評(píng)!

  《電子產(chǎn)品世界》編輯推薦獎(jiǎng)每年舉辦一次,借助媒體及行業(yè)從業(yè)者的多方視角,對(duì)一年來電子產(chǎn)業(yè)出現(xiàn)的最新技術(shù)和熱門產(chǎn)品進(jìn)行總結(jié)和集中展示,最后由技術(shù)專家與電子工程師投票共同決定最終的獲獎(jiǎng)企業(yè)。“我們?cè)谠u(píng)選‘最佳測(cè)試儀器’獎(jiǎng)項(xiàng)時(shí),會(huì)著重評(píng)審候選產(chǎn)品的性能和創(chuàng)新性。AWG70000任意波形發(fā)生器的眾多性能指標(biāo)使得其能夠支持業(yè)內(nèi)最苛刻的信號(hào)發(fā)生要求,其優(yōu)異的性能表現(xiàn)是有目共睹的。”EEPW主編王瑩女士表示。

  “AWG70000任意波形發(fā)生器再次獲得媒體和業(yè)內(nèi)人士的褒獎(jiǎng)讓我們感到非常榮幸,同時(shí)也是對(duì)泰克公司多年來從事創(chuàng)新、先進(jìn)測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器研發(fā)與制造的肯定和激勵(lì)。” 泰克亞太區(qū)市場(chǎng)總監(jiān)王中元 (Felix Wong)先生說道,“AWG70000擁有三項(xiàng)領(lǐng)先業(yè)界的性能——最佳的高采樣率、最佳的波形存儲(chǔ)和最佳的無雜散動(dòng)態(tài)范圍(SFDR),這次獲獎(jiǎng)再次證明了業(yè)界和市場(chǎng)對(duì)AWG70000領(lǐng)先性能的認(rèn)可。”

  隨著各種電子產(chǎn)品的數(shù)據(jù)速率和射頻信號(hào)復(fù)雜度不斷提高,工程師需要先進(jìn)的信號(hào)發(fā)生器來實(shí)現(xiàn)充分的負(fù)荷測(cè)試,研究人員需要更先進(jìn)的信號(hào)發(fā)生器進(jìn)行前沿技術(shù)研究。在設(shè)計(jì)、測(cè)試以及運(yùn)行世界上最復(fù)雜的數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)時(shí),能夠創(chuàng)建、生成或復(fù)制理想、失真或“真實(shí)”信號(hào)非常必要。AWG70000任意波形發(fā)生器實(shí)現(xiàn)了行業(yè)領(lǐng)先性能指標(biāo),包括50 GS/s采樣率、16 G采樣波形存儲(chǔ)和10位垂直分辨率,使其能夠支持業(yè)內(nèi)最苛刻的信號(hào)發(fā)生要求,可滿足上述測(cè)試需求。這意味著它能夠生成可通過接收器或其他被測(cè)器件傳送長(zhǎng)時(shí)間的快速和無干擾的信號(hào),以便進(jìn)行真正的全面測(cè)試。

  采樣率、動(dòng)態(tài)范圍以及波形存儲(chǔ)是任何任意波形發(fā)生器的關(guān)鍵指標(biāo)要求,而AWG70000在這些方面全面領(lǐng)先。在采樣率和波形存儲(chǔ)方面沒有任何任意波形發(fā)生器產(chǎn)品可以媲美。高動(dòng)態(tài)范圍通常只有在低采樣率任意波形發(fā)生器中才可見到,而AWG70000卻能提供高達(dá)80 dBc的動(dòng)態(tài)范圍。AWG70000系列通過產(chǎn)生以前不可能實(shí)現(xiàn)的波形,能幫助加速產(chǎn)品設(shè)計(jì)。

  AWG70000任意波形發(fā)生器提供業(yè)界領(lǐng)先的最佳性能,支持業(yè)內(nèi)最苛刻的信號(hào)發(fā)生要求,能對(duì)信號(hào)的特性進(jìn)行全面的控制,為國(guó)防電子、高速串行數(shù)據(jù)通信、光網(wǎng)絡(luò)以及高級(jí)研究等應(yīng)用所面臨的測(cè)試挑戰(zhàn)提供業(yè)界最佳的解決方案。

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